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カスタムSoC（ASIC）

デザイン技術

DFT(Design For Test)技術

プロセスの微細化・回路規模増大・回路動作の高速化・低消費電力化に伴い、SoCのテストはますます複雑になってきています。当社はこの課題を解決するため、圧縮スキャン・メモリBIST・バウンダリスキャンなどのDFT(Design For Test)に加え、テスト品質・歩留まりを向上させるDFT技術を用いた高品質なテストを実施しています。