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定制化SoC (ASIC)

设计技术

DFT(Design For Test)技术

DFT(Design For Test)技术

随着工艺的细微化、电路规模增大以及电路运行的高速化、低功耗化,SoC测试变得更加复杂。为解决这个课题,本公司在压缩扫描电路、内存BIST、边界扫描电路等DFT基础上,为提高测试质量及成品率,还使用各种DFT技术实现高质量测试。

[本公司实施的DFT技术]

●用于提高测试质量的实际速度、低功耗测试技术

  • 使用内置于芯片的PLL时钟测试
  • 抑制测试时电力的测试

●提高成品率的内存冗余缓解处理、故障诊断技术

提高成品率的内存冗余缓解处理、故障诊断技术

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